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名稱：粉末高溫阻抗測試系統(tǒng) 高溫粉末電阻率測試系統(tǒng)
類型：BXA65
產(chǎn)品簡介：本機提供一種在高溫環(huán)境下測試粉體材料電性能，分析粉體在高溫環(huán)境下電阻，電阻率（電導率），與壓強和溫度的實時變化關(guān)系，能模擬粉體本身在使用環(huán)境和自身特性高溫環(huán)境下的電性能狀態(tài).為提高生產(chǎn)，品質(zhì)管理，研發(fā)新品，改善配方提供新的參考數(shù)據(jù).為改善生產(chǎn)工藝和新品生產(chǎn)中存在的可能性以及不確定性的影響因數(shù)進行提前預測和預防，建立產(chǎn)品從研發(fā)到生產(chǎn)的過程數(shù)據(jù)庫模型

名稱：絕緣材料高溫電阻率測試系統(tǒng) 高溫體積電阻測試儀 高溫表面和體積電阻率測試系統(tǒng)
類型：BXA64
產(chǎn)品簡介：由測試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱結(jié)合配置專用的高溫測試探針治具，滿足絕緣材料在高溫狀態(tài)下，因溫度變化對電阻值變化之表面和體積電阻率測量要求，通過先進的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，數(shù)據(jù)的變化曲線，是檢驗和分析材料質(zhì)量的一種重要的工具。

名稱：導體材料高溫電阻率測試系統(tǒng) 電阻率測試系統(tǒng) 高溫測試探針
類型：BXA63
產(chǎn)品簡介：采用由四端測量方法測試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱結(jié)合配置專用的高溫測試探針治具，滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過先進的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數(shù)據(jù)的變化曲線，是檢驗和分析材料質(zhì)量的一種重要的工具。

名稱：高溫四探針電阻率測試系統(tǒng) 四探針雙電測定儀 雙電測數(shù)字式四探針測試儀
類型：BXA62
產(chǎn)品簡介：采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱結(jié)合配置專用的高溫測試探針治具，滿足半導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過先進的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數(shù)據(jù)的變化曲線，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。

名稱：經(jīng)濟型電碳制品電阻率測試儀 輸出12v 電炭制品電阻率的測定
類型：BXA60
產(chǎn)品簡介：本標準適用于電刷及其他電炭制品電阻率的測定.

名稱：電碳制品電阻率測試儀 輸出12v電炭制品電阻率測試儀
類型：BXA59
產(chǎn)品簡介：本標準適用于電刷及其他電炭制品電阻率的測定.

名稱：超高阻雙電四探針測試儀 四探針測定儀
類型：BXA58
產(chǎn)品簡介：本品為解決四探針法測試超高阻值材料方阻及電阻率，最大可以測試到1010Ω方阻值，是目前同行業(yè)中能測量到的最大方阻值

名稱：超低阻雙電四探針測試儀 覆蓋膜四探針測試儀
類型：BXA57
產(chǎn)品簡介：本品為解決四探針法測試超低阻材料方阻及電阻率，最小可以測試到1uΩ方阻值，是目前同行業(yè)中能測量到的最小值，采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。

名稱：雙電四探針方阻電阻率測試儀 半導體材料的方塊電阻 四探針電阻率 四探針方阻電阻率測試儀
類型：BXA56
產(chǎn)品簡介：本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。

名稱：雙電四探針方阻電阻率測試儀 粉末電導率測試儀 四探針方阻電阻率測試儀
類型：BXA55
產(chǎn)品簡介：雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀 器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

名稱：雙電四探針方阻電阻率測試儀【小機箱】 粉末電導率測試儀四探針電阻率
類型：BXA54
產(chǎn)品簡介：該儀 器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

名稱：雙電四探針方阻電阻率測試儀 塑料薄膜金屬鍍層方塊電阻測試儀 探針電阻率/方阻測試儀
類型：BXA53
產(chǎn)品簡介：雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀 器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

名稱：雙電四探針方阻電阻率測試儀 單晶硅四探針測試儀 導體材料電阻率及方塊電阻
類型：BXA52
產(chǎn)品簡介：雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀 器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

名稱：雙電四探針方阻電阻率測試儀 四探針雙電測量儀
類型：BXA51
產(chǎn)品簡介：本儀器是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

名稱：普通四探針方阻電阻率測試儀【小機箱】 導電(屏蔽)布電阻率測試儀四探針法
類型：BXA50
產(chǎn)品簡介：按照硅片電阻率測量的國際標準（ASTM F84）及國家標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國A.S.T.M 標準，本機配置232電腦接口及USB兩種接口，本機結(jié)合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量，更加準確.